深圳市珀光达智能科技有限公司高端薄膜制造核心装备 / PEROVSKITE & SEMICONDUCTOR

INLINE MULTIMODAL INSPECTION

在线多模态检测方案

让外观、发光和电性能数据对应同一片样品。

PODAR / PROCESS TO PRODUCTION工艺 × 装备 × 数据
在线多模态检测方案
公司资料展示的在线检测设备

EQUIPMENT OVERVIEW

设备定位与应用

将外观、发光成像和电性能检测与工艺参数关联,支持薄膜及组件缺陷识别、异常报警和质量追溯。

薄膜制备器件与组件量产质量控制

需要解决的工艺问题

不同检测工位若缺少统一样品编码、触发和时间基准,缺陷与工艺参数很难关联。在线检测方案应先定义检测对象、缺陷标准和数据用途,再匹配传送和检测模式。

讨论设备选型 ↗

PROCESS ROUTE

把设备放回工艺链路。

以下为方案讨论流程,实际工序、模块与顺序以材料工艺和项目方案为准。

  1. 01

    样品识别 / 工位触发

  2. 02

    AOI 外观检查

  3. 03

    PL / EL 发光成像

  4. 04

    IV 等性能采集

  5. 05

    缺陷判定与质量追溯

MODULES & FUNCTIONS

组成模块与功能方向

依据公司资料整理,并补充工程选型需要确认的内容;不代表所有模块为标准配置。

MODULE / 01

基底 AOI

公司资料覆盖划伤、污染与外观缺陷;具体缺陷定义、样本和判定阈值需联合确认。

MODULE / 02

PL / EL 成像

围绕发光均匀性、暗区、针孔与失效区开展评价;激发、接触、曝光条件按样品确定。

MODULE / 03

IV 与光学检测

资料列示电性能、透过率及外观检测方向;根据工位需求选择,不默认全部模块同时安装。

MODULE / 04

质量数据

关联设备状态、工艺参数、报警和良率统计;AI分析效果以约定样本集与复核规则评价。

TECHNICAL INFORMATION

技术信息,连同条件一起说明。

资料中的数值必须与机型、样品、区域、方法及运行条件对应。下表不代替产品规格书或项目技术协议。

资料信息与项目确认条件
项目资料信息 / 设计方向项目确认条件
检测组合AOI / PL / EL / IV / VIS 等方向按材料、器件结构与工位选择检测模块。
样品范围资料描述实验及大面积量产方向尺寸、接触方式与传送姿态按机型确定。
检测节拍按检测模式与样品核定资料存在不同速度口径,不能混作同一设备指标。
缺陷与数据缺陷识别 / 报警 / 追溯最小缺陷、误报漏报及数据接口需技术协议定义。

INTEGRATION & ACCEPTANCE

从输入条件,走向可执行的验收。

PROJECT INPUT

选型前建议准备

  • 样品尺寸、结构、透明度与接触限制
  • 缺陷清单、缺陷样本、判定规则与复核方式
  • 产线节拍、停拍/连续模式及触发信号
  • 样品编码、图像保存、MES字段和反馈权限

VERIFICATION PLAN

验收与验证讨论

  • 使用双方确认的样本集评价检出、误报和漏报,保留人工复核记录。
  • 在约定检测组合、曝光和运动模式下验收节拍。
  • 检查样品ID、图像、性能和工艺参数是否可对应、查询与导出。

LET’S BUILD YOUR NEXT PROCESS

把材料、样品与工艺目标带入选型。

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