基底 AOI
公司资料覆盖划伤、污染与外观缺陷;具体缺陷定义、样本和判定阈值需联合确认。
INLINE MULTIMODAL INSPECTION
让外观、发光和电性能数据对应同一片样品。

EQUIPMENT OVERVIEW
将外观、发光成像和电性能检测与工艺参数关联,支持薄膜及组件缺陷识别、异常报警和质量追溯。
不同检测工位若缺少统一样品编码、触发和时间基准,缺陷与工艺参数很难关联。在线检测方案应先定义检测对象、缺陷标准和数据用途,再匹配传送和检测模式。
讨论设备选型 ↗PROCESS ROUTE
以下为方案讨论流程,实际工序、模块与顺序以材料工艺和项目方案为准。
MODULES & FUNCTIONS
依据公司资料整理,并补充工程选型需要确认的内容;不代表所有模块为标准配置。
公司资料覆盖划伤、污染与外观缺陷;具体缺陷定义、样本和判定阈值需联合确认。
围绕发光均匀性、暗区、针孔与失效区开展评价;激发、接触、曝光条件按样品确定。
资料列示电性能、透过率及外观检测方向;根据工位需求选择,不默认全部模块同时安装。
关联设备状态、工艺参数、报警和良率统计;AI分析效果以约定样本集与复核规则评价。
TECHNICAL INFORMATION
资料中的数值必须与机型、样品、区域、方法及运行条件对应。下表不代替产品规格书或项目技术协议。
| 项目 | 资料信息 / 设计方向 | 项目确认条件 |
|---|---|---|
| 检测组合 | AOI / PL / EL / IV / VIS 等方向 | 按材料、器件结构与工位选择检测模块。 |
| 样品范围 | 资料描述实验及大面积量产方向 | 尺寸、接触方式与传送姿态按机型确定。 |
| 检测节拍 | 按检测模式与样品核定 | 资料存在不同速度口径,不能混作同一设备指标。 |
| 缺陷与数据 | 缺陷识别 / 报警 / 追溯 | 最小缺陷、误报漏报及数据接口需技术协议定义。 |
INTEGRATION & ACCEPTANCE
PROJECT INPUT
VERIFICATION PLAN

LET’S BUILD YOUR NEXT PROCESS
技术咨询 / 联合开发 / 设备采购 / 中试验证 / 工程交付